Компания Dongguan Huanyi Instrument Technology Co., Ltd.
+86 0769 8348 2055
info@huanyichamber.com
Twitter3
Created with Sketch.
linkedln3
Created with Sketch.
face-book3
Created with Sketch.
Language
English
Русский
Việt Nam
بالعربية
Indonesia
Позиция:
ДОМА
>
НОВОСТИ
>
Техническая статья
>
Камера для испытаний полупроводниковых компонентов при постоянной температуре и влажности в соответствии с требованиями JESD22
Камера для испытаний полупроводниковых компонентов при постоянной температуре и влажности в соответствии с требованиями JESD22
2024-04-25
Предыдущий:
Использование камеры для испытаний на высокую и низкую температуру и влажность пластин IC
Следующий:
Внедрение оборудования для испытательной камеры MINI Chip при высокой температуре и высокой влажности
